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超纯金属的检测方法---困难。痕量元素的化学分析系指一克样品中含有微克级10克/克、毫微克级10克/克、微微克级10克/克杂质的确定。常用的手段有中子和带电粒子活化分析，原子吸收光谱分析，荧光分光光度分析，质谱分析，铂粒报价，化学光谱分析及气体分析等。在单晶体高纯材料中，晶体缺陷对材料性能起---影响，称为物理杂质，铂粒加工，主要依靠在晶体生长过程中控制单晶平稳均匀的生长来减少晶体缺陷。
各种类型的溅射薄膜材料在半导体集成电路(vlsi)、光碟、平面显示器以及工件的表面涂层等方面都得到了广泛的应用。20世纪90年代以来，溅射靶材及溅射技术的同步发展，---地满足了各种新型电子元器件发展的需求。例如，在半导体集成电路制造过程中，以电阻率较低的铜导体薄膜代替铝膜布线。
在被溅射的靶极阴极与阳极之间加一个正交磁场和电场，在高真空室中充入所需要的惰性气体通常为ar气，磁铁在靶材料表面形成250～350高斯的磁场，同高压电场组成正交电磁场。
现在行业中通用的测量方法基本是手动进行的，其劣势在于手动测试受人为因素 (用力的大小，接触面积等)影响较大，六安铂粒，手动测试无法实现同一被测物目标的多次数值的重现，手动测试时只能达到每次测试出来一个数值，无法做产品的分析。另外一般的电阻测量仪器受温度和湿度的影响较大，无法测量，导致不能得出的数值，从而不能---广品的品质。
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